Participación del CIDIS en el “2017 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their application to Mechatronics”

Fecha: 
Miércoles, 24 Mayo, 2017 - 00:00
Lugar: 
San Sebastián, España

En la ciudad de San Sebastián, España, del 24 al 26 de Mayo de 2017 se realizó el “IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their application to Mechatronics ” (ECMSM 2017), llevado a cabo por la MONDRAGON UNIBERTSITATEA. En dicho evento la Msc. Patricia Suárez R, docente de la FIEC e investigadora del CIDIS, presentó en calidad de expositora el trabajo de investigación titulado “Cross-Spectral Image Patch Similarity using Convolutional Neural Network”. El trabajo presentado se centra en el diseño de un modelo que sirva para la detección de similaridades entre imágenes de diferentes espectros (Visible – Infrarojo cercano), esta invetigación contribuye a las aplicaciones que necesitan combinar la información de los espectros y fusionarla en una única representación. Para esta investigación se propuso el uso de una arquitectura de 2-canales basada en redes neuronales convolucionales (deep-learning). Este trabajo de investigación tiene como co-autores al Dr. Angel Sappa (Docente de la FIEC- Investigador CIDIS) y al Dr. Boris Vintimilla (Docente de la FIEC y Director del CIDIS).

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